本設(shè)備適用于工業(yè)及電子產(chǎn)品的性能可靠性試驗(yàn)，本試驗(yàn)具有較大的溫度控制范圍，性能指標(biāo)均達(dá)到GB10592-93《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》，GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》，適用于GB2423-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》中的《試驗(yàn)低溫A：試驗(yàn)方法；試驗(yàn)高溫B：試驗(yàn)方法》及恒定濕熱試驗(yàn)，可有效的對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫及濕熱(恒定)試驗(yàn)。