AWOS—SL02圖像冠層分析儀
一、功能
廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。
二、原理和方法
采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。
三、特點
1.非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)
2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）
3.手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭，
4.隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍
5.由計算機電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)
6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)）。對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件
7.通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯。
8.半球圖象上可以設(shè)計任何地點、任何時間的太陽視運動軌跡，以及冠層內(nèi)任意時刻的受光狀況。
四、技術(shù)參數(shù)
1.鏡頭角度：150°
2.分辨率：768×494pix
3.測量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個區(qū)域，方位角360°亦可分割成十個區(qū)域。
4．PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400～700nm。 測量范圍0～2700μmol/m2•s
5.分析軟件：專業(yè)ECA-GC02軟件。
6.顯示和內(nèi)存：7英寸華碩筆記本。
7.電 池：電腦電池。
8.傳輸接口：USB
9.工作溫度：0～55℃
