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單平板法導(dǎo)熱系數(shù)測試儀DRH-300

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)DRH-300
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2019/7/5 11:49:06
  • 訪問次數(shù)360
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食品機(jī)械設(shè)備網(wǎng)采購部電話:13777369734

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北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司從事集成、為一體的新企業(yè),公司將秉承“以人為本”的宗旨,產(chǎn)品投放市場依“向質(zhì)量求生存”為北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司實(shí)現(xiàn)“深化市場,深入用戶”的經(jīng)營理念為指導(dǎo)原則為您提供完善的供應(yīng)鏈保障。優(yōu)秀的人才隊(duì)伍,打造專業(yè)化服務(wù)水準(zhǔn)!

北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司是具備“技術(shù)培訓(xùn),儀器維修一站式集成供應(yīng)商集。專業(yè)致力于氣體檢測儀器、食品檢測、農(nóng)業(yè)檢測、水質(zhì)與空氣質(zhì)量安全監(jiān)測設(shè)備、無損檢測儀器、實(shí)驗(yàn)室分析儀器以及相關(guān)試劑和,客戶分布于石油、建筑、環(huán)保、食品、、農(nóng)業(yè)、科研教育等如實(shí)驗(yàn)室涂布機(jī)、四合一氣體檢測儀、多參數(shù)水質(zhì)分析儀、乳品雜質(zhì)度檢測儀ATP手持式熒光檢測儀、牛奶分析儀、建材煙密度檢測儀、多聯(lián)不繡鋼過濾器、玻璃軟化點(diǎn)檢測儀、工業(yè)等各大領(lǐng)域等產(chǎn)品專業(yè)性技術(shù)咨詢的公司,北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司擁有完整、科學(xué)的質(zhì)量管理體系。公司誠信、實(shí)力和產(chǎn)品質(zhì)量獲得業(yè)界的認(rèn)可。歡迎各界朋友蒞臨我公司指導(dǎo)和業(yè)務(wù)洽談。
       本所列參數(shù)、圖片、價(jià)格及說明僅供參考,如有變動(dòng),恕不另行通知,請以隨貨所帶說明書實(shí)物為準(zhǔn)。

   

 

 

技術(shù)開發(fā)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù);銷售工藝品(不含文物)、金屬材料、建筑材料、化工產(chǎn)品(不含危險(xiǎn)化學(xué)品及)、機(jī)械設(shè)備、電子產(chǎn)品、汽車配件、五金交電、家用電器、計(jì)算機(jī)軟件及輔助設(shè)備。(企業(yè)依法自主選擇經(jīng)營項(xiàng)目,開展經(jīng)營活動(dòng);依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后依批準(zhǔn)的內(nèi)容開展經(jīng)營活動(dòng);不得從事本區(qū)產(chǎn)業(yè)政策禁止和限制類項(xiàng)目的經(jīng)營活動(dòng)。)
單平板法導(dǎo)熱系數(shù)測試儀DRH-300
導(dǎo)熱系數(shù)測試儀基于單向穩(wěn)定導(dǎo)熱原理,當(dāng)試樣上、下兩面處于不同的穩(wěn)定溫度下,測量通過試樣有效傳熱面積的熱流及試樣兩表面間溫差和厚度,計(jì)算導(dǎo)熱系數(shù)
單平板法導(dǎo)熱系數(shù)測試儀DRH-300 產(chǎn)品信息

單平板法導(dǎo)熱系數(shù)測試儀DRH-300
導(dǎo)熱系數(shù)測試儀基于單向穩(wěn)定導(dǎo)熱原理,當(dāng)試樣上、下兩面處于不同的穩(wěn)定溫度下,測量通過試樣有效傳熱面積的熱流及試樣兩表面間溫差和厚度,計(jì)算導(dǎo)熱系數(shù)。滿足了材料檢測研究部門對(duì)材料導(dǎo)熱系數(shù)的高精度測試要求。北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)儀器參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T3399《塑料導(dǎo)熱系數(shù)試驗(yàn)方法,護(hù)熱平板法》、GB/T3139-2005(纖維增強(qiáng)塑料導(dǎo)熱系數(shù)試驗(yàn)方法)(玻璃鋼導(dǎo)熱系數(shù)試驗(yàn)方法)、GB/10294-2008(絕熱材料穩(wěn)態(tài)熱阻及有關(guān)特性的測定 防護(hù)熱板法)等。主要測試塑料、玻璃、纖維、泡沫、保溫材料等。廣泛應(yīng)用在大中院校,科研單位,質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測。

單平板法導(dǎo)熱系數(shù)測試儀DRH-300
導(dǎo)熱系數(shù)測試儀主要技術(shù)指標(biāo):
北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)
1、導(dǎo)熱系數(shù)范圍:0.010~5.000W/mk;
2、測試精度:±3%;
3、試樣尺寸:單試件300×300×(10-50)mm;平面度: < 0.05 mm.
4、熱面溫度范圍:室溫~100℃,溫度分辯率0.01℃,測量精度: 0.05℃;
5、冷面溫度范圍:室溫~60℃,溫度分辯率0.01℃(配不帶致冷功能的恒溫水槽)
或:0~60℃,溫度分辯率0.01℃;(配帶有致冷功能的恒溫水槽)

北京現(xiàn)貨導(dǎo)熱系數(shù)測試儀(護(hù)熱平板法,單平板) 型號(hào):DRH-300

6、計(jì)算機(jī)控制全自動(dòng)測試,數(shù)據(jù)處理,并可生成檢測報(bào)告打印輸出;
7、冷熱板溫差:默認(rèn)值20℃,用戶也可以自行設(shè)定
常用標(biāo)準(zhǔn)溫差: 20℃ 常用溫度差范圍15-25℃
北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)
配置:含測試主機(jī)壹臺(tái),軟件壹套,高精度恒溫水槽壹臺(tái),需方自備電腦及打印機(jī)

 

 

 

產(chǎn)品名稱:便攜式氫氣檢測儀 便攜式氫氣報(bào)警儀
產(chǎn)品型號(hào):KS90-H2

便攜式氫氣檢測儀 便攜式氫氣報(bào)警儀 型號(hào): KS90-H2
      
儀器特點(diǎn) 
采用*高精度傳感器 
液晶點(diǎn)陣顯示技術(shù),支持中英文顯示界面 
氣體濃度單位PPM,mg/m3等可快速切換顯示 
高蜂鳴報(bào)警音,高低二級(jí)報(bào)警值可以自行設(shè)置 
帶數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能,可在儀器上查看歷史數(shù)據(jù),也可連接電腦導(dǎo)出打印數(shù)據(jù)(選配) 
大容量鋰聚合物充電電池,可以保證儀器長時(shí)間連續(xù)工作 
堅(jiān)固的鱷魚夾,可在作業(yè)過程中方便攜帶 
外殼采用高強(qiáng)度特殊工程塑料,堅(jiān)固耐用,外表美觀,手感好 
精美的鋁合金儀器包裝箱 
技術(shù)參數(shù) 
產(chǎn)品類型:氫氣檢測儀(H2)  
檢測原理:電化學(xué)原理 
量    程:0-500ppm、0-1000ppm、0-2000ppm、0-5000ppm、0-10000ppm、0-40000ppm (量程可選) 
分 辨 率:0.1ppm(0-500ppm),1ppm(0-1000ppm及以上) 
精    度:3%FS 
采樣方式:擴(kuò)散式 (可選配外置采樣泵)  
濃度單位:ppm、mg/m3可一鍵切換顯示,濃度值由系統(tǒng)自動(dòng)換算 
顯示技術(shù):單色點(diǎn)陣128*128 LCD圖形顯示 
背    光:可手動(dòng)設(shè)置背光時(shí)間,報(bào)警時(shí)自動(dòng)開啟背光 
直接讀數(shù):氣體分子式,濃度單位,測量值,時(shí)間,電池,報(bào)警狀態(tài),數(shù)據(jù)記錄狀態(tài)等 
數(shù)據(jù)記錄:10萬組存儲(chǔ)數(shù)據(jù),五分鐘存儲(chǔ)間隔,可連續(xù)存儲(chǔ)15個(gè)月,存儲(chǔ)間隔10-3600秒可調(diào) (選配) 
數(shù)據(jù)傳輸:USB接口數(shù)據(jù)傳輸,配上位機(jī)軟件,可下載打印數(shù)據(jù)(選配) 
標(biāo)    定:兩個(gè)目標(biāo)點(diǎn)標(biāo)定,兩點(diǎn)均可設(shè)置標(biāo)定值,支持一鍵全通道自動(dòng)標(biāo)零功能 
密碼保護(hù):標(biāo)定設(shè)有密碼保護(hù)功能,密碼重置功能  
恢復(fù)操作:支持恢復(fù)出廠標(biāo)定功能,恢復(fù)出廠參數(shù)設(shè)置功能 
操作語言:支持中英文操作界面  
報(bào)警的方式:聲光報(bào)警,高低報(bào)警點(diǎn)可設(shè)置,報(bào)警狀態(tài)三種可選:開啟,關(guān)閉,禁音 
電    池:3.7V可充電鋰電池,電池容量1800mA,工作時(shí)間大于50h(無可燃?xì)猓?,充電時(shí)間小于6h。 
充 電 器:帶USB接口的旅行充電器 
防爆等級(jí):ExiaⅡCT4 
防護(hù)等級(jí):IP66 
工作溫度:-20℃~50℃ 
工作濕度:0-95%RH  (非冷凝,濕度大于90%RH,需配過濾干燥筒) 
殼體材料:ABS+PC 
外型尺寸:155*78*35mm(長*寬*高)  
整機(jī)重量:300 g

 

 

 

產(chǎn)品名稱:數(shù)顯便攜式濁度儀
產(chǎn)品型號(hào):WGZ-20B

數(shù)顯便攜式濁度儀 型號(hào):WGZ/1B

概述

WGZ系列散射光濁度儀是用于測量懸浮于水或透明液體中不溶性顆粒物質(zhì)所產(chǎn)生的散射程度,并能定量標(biāo)證這些懸浮物顆粒物質(zhì)的含量。可以廣泛用于發(fā)電廠、純凈水廠、自來水廠生活污水處理廠、飲料廠、環(huán)保部門、工業(yè)用水、制酒行業(yè)及制藥行業(yè),防疫部門、醫(yī)院等部門的濁度測定。

 

序號(hào)

型號(hào)

產(chǎn) 品 名 稱

簡介

1

WGZ/B

 

便攜式濁度計(jì)

測量范圍:0-200NTU;

小示值:0.1NTU

2

WGZ/1B

3

WGZ/20B

 

測量范圍:0-20NTU;

小示值:0.01NTU

4

WGZ/1S

 

臺(tái)式濁度儀

 

5

WGZ/20S

6

WGZ/1A

測量范圍:0-200NTU;

小示值:0.1NTU

7

WGZ/20

 

 

 

技術(shù)指標(biāo)

1、基本誤差:±2.5%F.S

2、重復(fù)性:≤1.5%F.S

3、零點(diǎn)漂移:≤0.2NTU

4、電源波動(dòng)影響:±0.5%F.S

5、電源:交流220V/50HZ5W

6、環(huán)境溫度:使用5~35℃,貯存-20~55℃

7、相對(duì)濕度:≤80%RH

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:電路板故障維修測試儀
產(chǎn)品型號(hào):GT4040UXP-Ⅱ

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98,WIN2000,WIN XP 等系統(tǒng)下工作,帶有USB接口,雙CPU工作,速度更快,效率更高。可測三端器件,另外有俄羅斯庫,西門子庫,可定量測試L,C,R參數(shù),,可對(duì)運(yùn)算放大器,光耦,三端電源進(jìn)行測試。 
。 

產(chǎn)品特點(diǎn):  
在維修各種電子設(shè)備時(shí),您是否常因圖紙資料不全而束手無策?您是否常因高昂的維 
修費(fèi)用而增添煩惱? 

[GT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用,全部智能化。它利 
用電腦來彌補(bǔ)人工維修能力的不足,能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原 
理的情況下,對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測試,在線檢測元器件好壞,迅速檢 
測到電路板上故障元器件。簡捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。 

產(chǎn)品特點(diǎn): 

◆的測試技術(shù),強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力,任何故障原因的電路板皆可修好 
◆友好簡單的中文操作界面,不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練,任何人均可成為維修專家 
◆無需電路原理圖,不必知道器件型號(hào),對(duì)任何電路板皆可快速維修 
◆40×2路數(shù)字電路測試功能,備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫; 
◆40×2(ASA)V/I,曲線分析測試功能 
◆電路板測試存儲(chǔ)功能,被測板可與之比較 
◆與進(jìn)口同類儀器比較,性價(jià)比更優(yōu),操作更方便 
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片,可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試。 
◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄,比較分析來測試。  

技術(shù)規(guī)格: 
Windows界面可在WIN98,WIN2000,WIN XP 等系統(tǒng)下工作 
雙CPU工作,速度更快,效率更高。 
功能測試40×2通道 
VI曲線測試40×2通道 
雙測試夾VI曲線測試 
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電 
EPROM/RAM在線讀取 
模擬器件 VI曲線測試 
總線隔離信號(hào) 
中文維修筆記 

一、序言 
GT/ICT系列測試儀已推出近十年。一方面漸入人心,一方面用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力,成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系 

列,把GT/ICT測試儀發(fā)展到了一個(gè)新的階段,能夠更好的滿足用戶的實(shí)際需求。 
從測試技術(shù)方面來看,GT/ICT測試儀是“后驅(qū)動(dòng)”、“器件模擬端口分析(ASA)”測試技術(shù)的簡單使用,而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項(xiàng)技 

術(shù)在上的發(fā)展,在總結(jié)了多年來的實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上重新設(shè)計(jì)而成,因而有更好的測試效果;從產(chǎn)品的軟、硬件實(shí)現(xiàn)技術(shù)方面來 

看,GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng),主要由中小規(guī)模集成電路組成,而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺(tái)上打造,大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼 

裝器件等現(xiàn)代電路設(shè)計(jì)技術(shù),因而具有更友好的人-機(jī)界面,更高的技術(shù)指標(biāo)和可靠性。  
全面提高技術(shù)水平的目的,是改進(jìn)、擴(kuò)充測試功能。為突出重點(diǎn),先在本文中介紹對(duì)兩個(gè)Z常用的測試功能:“ASA(VI)曲線測試”、“數(shù) 

字器件在線功能測試”的改進(jìn)。(注意相同之處不再贅述,請參見GT/ICT測試儀的相關(guān)說明)。我們將在以后的文章中,介紹其它方面的改進(jìn) 

。 
需要說明的是,市場上的GT/ICT系列測試儀有幾個(gè)版本,總體水平差別不大,僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。 

二、對(duì)ASA(VI)曲線測試的改進(jìn) 
2.1 大大擴(kuò)展了故障覆蓋范圍 
這里擴(kuò)展范圍,是指GT/ICT測試儀不能測試,或測試效果不好,而GT/ICT-Ⅱ能夠測試,或測試效果有較大改進(jìn)。 
2.1.1 測試三端器件 
GT/ICT測試儀不能全面檢測三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個(gè)問題。 
三端器件是指閘流管(可控硅)、MOS三極管、電壓調(diào)節(jié)器等具有三個(gè)引出端,以及光藕、繼電器等可以等效成三個(gè)引出端的器件。下面以閘流 

管(可控硅)為例,來說明GT/ICT-Ⅱ如何改進(jìn)了對(duì)此類元件的測試。 
用GT/ICT測試閘流管,當(dāng)ASA(正弦)測試信號(hào)加在它的陽極和陰極之間時(shí),控制端沒有信號(hào),閘流管處于截止?fàn)顟B(tài),所以從曲線上只能觀察到 

截止?fàn)顟B(tài)是否正常(兩極之間是否短路、或有較大漏流),不能發(fā)現(xiàn)導(dǎo)通狀態(tài)是否正常。比如,會(huì)把陽極和陰極開路的故障誤判成截止?fàn)顟B(tài)正 

常。 
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了一個(gè)脈沖信號(hào),測試時(shí)加在閘流管的控制端,控制閘流管在ASA(正弦)測試信號(hào)期間出現(xiàn)導(dǎo)通、截止兩種狀態(tài),實(shí)現(xiàn)了對(duì)閘 

流管進(jìn)行全面的檢測。 
例1:用GT/ICT-Ⅱ測出的*閘流管的曲線 

圖中橫線是否足夠水平反映了截止?fàn)顟B(tài)是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導(dǎo)通阻抗是否足夠小、豎線與縱軸的間距就是導(dǎo)通電壓的大小。 

(GT/ICT測試儀只能測出一根水平線。) 
測試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配(同步)形式。為了更好地滿足測試各種三端器件的不同要求,在GT/ICT-Ⅱ 

上共設(shè)置了八種匹配方式——脈沖相對(duì)于正弦波的起始、結(jié)束位置及寬度、高度均可調(diào)整;支持單向觸發(fā)、雙向觸發(fā)。詳細(xì)情況請參見產(chǎn)品使 

用說明。 
2.1.2 自動(dòng)曲線靈敏度調(diào)整 
GT/ICT測試儀沒有ASA曲線對(duì)電路變化(故障)的自動(dòng)靈敏度調(diào)整功能,有些本該能夠檢測出來的故障因此不能發(fā)現(xiàn)。 
我們來比較下面三組電阻的ASA曲線。  

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K 
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線;第二組1K和1.5K;第三組10K和15K。盡管實(shí)際電路的相對(duì)變化大小*相同,但看上去中間兩條曲線 

差別大,兩邊的要小得多。我們說,中間組的曲線靈敏度高,而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測試是通過曲線位置差異大小來發(fā)現(xiàn)故障的,所以 

,在故障測試中很可能只判斷中間組有問題。 
可以證明,VI曲線的走向趨勢越接近45度,反映電路變化的靈敏程度越高;如果VI曲線是一個(gè)封閉圖形,曲線包圍的面積越大,靈敏度越高。 
曲線的靈敏度與被測試點(diǎn)的特征和測試參數(shù)相關(guān)。依據(jù)具體的結(jié)點(diǎn)特征,調(diào)整測試參數(shù),從而得到較高靈敏度的曲線,叫做調(diào)整VI曲線(關(guān)于 

電路故障的)靈敏度。 
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動(dòng)曲線靈敏度調(diào)整功能。對(duì)于上面三種情況,在選中自動(dòng)靈敏度調(diào)整后,測到的三組曲線都和中間組一樣。 
2.1.3 測試大電容 
GT/ICT只能測試Z大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測范圍擴(kuò)大到了兩萬微法以上。 
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導(dǎo)致的故障,是一件相當(dāng)令人頭痛的事情。對(duì)維修測試來說,利用ASA曲線測試進(jìn)行檢測可 



的面積趨于零),根本無法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測試儀的技術(shù)指標(biāo),對(duì)于高達(dá)兩萬多微法的電容,都能測出一個(gè)包圍了相當(dāng)面積的橢 

圓。 
2.1.4 給同一器件的不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù) 
GT/ICT沒有這個(gè)功能,導(dǎo)致對(duì)有的器件測試效果差,有的器件無法測試。 
用GT/ICT測試儀測試一個(gè)有多個(gè)管腳的器件的曲線,所有管腳都只能使用同樣的測試參數(shù),所有管腳都要依次測試一遍。但實(shí)際檢測中,確實(shí) 

存在不同管腳使用不同測試參數(shù),來保證測試效果,也存在個(gè)別管腳不允許測試的情況。 
比如,集電極開路器件7403的輸入是標(biāo)準(zhǔn)TTL電平,而輸出Z大耐壓可達(dá)32V,常用于驅(qū)動(dòng)數(shù)碼管、繼電器等。測試這種器件,測試輸入、輸出 

腳的信號(hào)幅度要分別設(shè)置:對(duì)輸入應(yīng)設(shè)在略大于5V;對(duì)于輸出應(yīng)設(shè)置在略大于負(fù)載電壓,小于32V之間(比如驅(qū)動(dòng)12V數(shù)碼管時(shí)一般用15V),才 

能達(dá)到全面檢測的目的。GT/ICT測試儀不能滿足這種使用要求。 
還有,電路板上帶電池的存儲(chǔ)器里面有數(shù)據(jù),在它的電源端、片選端不能加任何測試信號(hào),否則會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。GT/ICT測試儀不能測試這類 

器件。 
GT/ICT-Ⅱ測試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設(shè)置測試參數(shù),也允許不做測試的管腳。 
2.2 大大提高了測試可靠性 
測試可靠性是指測試結(jié)果能真實(shí)反映實(shí)際情況,不會(huì)導(dǎo)致用戶誤判故障的能力。 
2.2.1 曲線穩(wěn)定性問題 
GT/ICT測試儀不能發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線,會(huì)把好電路誤判為有故障。 
即使電路**,也存在這樣的情況——在同一個(gè)管腳上,每次測到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩(wěn)定。產(chǎn)生不穩(wěn)定 

曲線的原因以及如何讓曲線穩(wěn)定下來的辦法請參見“電路在線維修測試儀上的ASA測試”?!对O(shè)備管理與維修》2006.6,2006.7。但測試儀先 

要能夠把不穩(wěn)定曲線識(shí)別出來,然后才談得到處理,否則就可能把好電路誤判為有故障。 
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩(wěn)定曲線識(shí)別出來,并且能具體指示出哪一個(gè)管腳上的曲線不穩(wěn)定,這無疑有助于提高測試結(jié)果的可靠性。 
2.2.2 接觸問題 
使用測試夾學(xué)習(xí)ASA曲線的時(shí)候,器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測試夾引腳磨損等原因,經(jīng)常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上,結(jié)果 

學(xué)習(xí)到了一條虛假的開路曲線;比較曲線時(shí)也有同樣問題。這種不可靠的曲線會(huì)導(dǎo)致誤判,所以在實(shí)際使用中,一旦發(fā)現(xiàn)開路曲線,都要再次 

確認(rèn),比如打磨該引腳后重測。 
問題在于使用測試夾測試時(shí),一次測試要處理許多條曲線。曲線多了以后,往往不能在一屏上一起都顯示出來。象GT/ICT測試儀那樣,靠人工 

從許多條曲線中確認(rèn)有無開路曲線,得來回翻屏或滾屏,不但效率低,而且容易漏檢。 
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了自動(dòng)開路曲線偵測、提示功能。在一次測試到的所有曲線中,只要存在開路曲線,會(huì)給出多種提示信息。根據(jù)提示很容易找到 

它在哪個(gè)管腳上,很難漏檢。 
2.2.3 平均曲線 
當(dāng)測試大量的相同對(duì)象(比如一批同樣的電路板或相同器件)時(shí),使用從哪個(gè)好的電路板或器件上學(xué)習(xí)到的曲線作為參照標(biāo)準(zhǔn) 
使用GT/ICT-Ⅱ測試儀,可以先學(xué)習(xí)幾個(gè)好的電路板或器件,得到多個(gè)文件,然后利用平均曲線功能,把這些文件中的曲線自動(dòng)求平均后,再自 

動(dòng)生成一個(gè)新的曲線文件,作為以后的測試比較標(biāo)準(zhǔn)。該功能通常用于建立高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)曲線庫。 
2.3 大大提高了使用效率 
2.3.1 迅速發(fā)現(xiàn)并找到異常曲線(開路、不穩(wěn)定、比較差) 
用測試夾進(jìn)行測試時(shí),一次會(huì)提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線(開路、不穩(wěn)定、差),并迅速找到異 

常曲線呢? 
使用GT/ICT,需要用戶把所有曲線逐一檢查一遍后進(jìn)行判斷。不但效率,而且容易漏判。為此,GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。 
1.前面已經(jīng)說明,GT/ICT-Ⅱ能夠自動(dòng)檢測異常曲線。在一次測試中哪怕只有一條異常曲線,先在屏幕上部顯著位置提示:有開路曲線或有 

不穩(wěn)定曲線或比較差,以引起用戶注意;  
2.在學(xué)習(xí)曲線時(shí),增加了按先異常、后正常排列方式,將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前面;  
3.在曲線比較時(shí),增加了按曲線誤差大小順序排列的方式,自動(dòng)將誤差較大的曲線排在前面(由于比較時(shí)主要關(guān)心差曲線); 
4.打開管腳列表窗口,直接提示在管腳號(hào)的旁邊。 
2.3.2 測試曲線 
一次測試了多條管腳曲線后,可能對(duì)某個(gè)管腳曲線有疑問,或不太滿意。比如,有異常曲線,要進(jìn)行適當(dāng)處理(比如對(duì)開路曲線,打磨該管腳 

)后重測;或者想修改某條曲線的設(shè)置參數(shù)后,再重測該條曲線,觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ,在做完處理后,你只要用鼠標(biāo)雙擊某曲線,就 

將僅僅測試這條曲線,其它曲線*不受影響。方便、快捷。 
2.3.3 由管腳號(hào)查找曲線 
當(dāng)一次測試的曲線較多,一屏顯示不下時(shí),要來回翻屏或滾屏才能查看某個(gè)管腳的曲線,影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號(hào)查找曲線的 

功能。只要在腳號(hào)列表窗口中雙擊某腳號(hào),就自動(dòng)把該管腳的曲線移到屏幕顯示區(qū),并用彩色框框起來。十分快捷。 
2.3.4 聲音提示 
雙探棒直接對(duì)照測試方式相當(dāng)常用。用GT/ICT進(jìn)行測試時(shí),每測試一個(gè)引腳,要先低頭——把兩個(gè)探棒穩(wěn)定接觸在相應(yīng)被測管腳上,然后再抬 

頭看屏幕——確認(rèn)對(duì)照結(jié)果,一上一下,有人開玩笑稱為“雞啄米”。當(dāng)處理的腳數(shù)多時(shí),相當(dāng)辛苦且影響效率。 
GT/ICT-Ⅱ上設(shè)置了聲音提示。只要比較不差(這是大多數(shù)情況),計(jì)算機(jī)就發(fā)出“嗒嗒”的提示聲,類似于使用萬用表的BEEP擋,基本解決 

了這個(gè)問題。 
2.4 大大改善了人-機(jī)界面友好程度 
2.4.1 三種曲線坐標(biāo) 
GT/ICT只在電壓(V)-電流坐標(biāo)(I)上顯示器件的端口特征曲線,這也是通常把ASA測試叫做VI曲線測試的原因。但對(duì)有的測試結(jié)果,換一種坐標(biāo) 

可能更容易理解曲線所反映的電路問題。這就好比解析幾何中有直角坐標(biāo)系、又有極坐標(biāo)系一樣。 
GT/ICT-Ⅱ測試儀提供三種坐標(biāo):電壓(V)-電流(I)坐標(biāo)、時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo)和電壓(V)-電阻(R)坐標(biāo)。下面給出*閘流管在兩種不同坐 

標(biāo)下的曲線。 



電壓(V)-電流(I)坐標(biāo) 時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo) 
注意右邊的曲線。在測試(正弦)信號(hào)的四分之一處,控制極上的觸發(fā)信號(hào)使閘流管導(dǎo)通,曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘 

流管的飽和電壓。 
2.4.2 在曲線上提示參數(shù)(Tooltips) 
把鼠標(biāo)光標(biāo)放在曲線上,GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術(shù)顯示出光標(biāo)處的參數(shù)。十分方便。請參見上圖。 
2.4.3 管腳命名 
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號(hào)只是阿拉伯?dāng)?shù),并且所有管腳只能按數(shù)字順序一維排列。這在有些時(shí)候極為不方便。 
比如,有的器件管腳是兩維排列的。橫著數(shù)是a、b、c……,豎著數(shù)是1、2、3……。b3表示位于第二列,第三行的管腳;有的電路板外引腳有 

上百個(gè),對(duì)有的特別引腳會(huì)有專門標(biāo)識(shí)—常見的是標(biāo)識(shí)它上面的信號(hào)名稱。如果只能用一維數(shù)字作為管腳名,查找起來極為不便。 
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動(dòng)對(duì)管腳按一維排列方式分配管腳序號(hào),也允許用戶給管腳命名。序號(hào)和用戶命名同時(shí)提示在相應(yīng)曲線上。查找起來非常方 

便。 
2.4.4 自定義曲線顯示顏色 
不同人對(duì)顏色有不同偏好。長期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶修改曲線、坐標(biāo)、字符、背景等的顏色設(shè)置。為自己營造 

一個(gè)較為舒服的工作環(huán)境。 

三、對(duì)數(shù)字器件在線功能測試的改進(jìn) 
數(shù)字器件在線功能測試,是指對(duì)電路板上的器件直接進(jìn)行邏輯功能好壞的檢測。對(duì)這項(xiàng)功能的改進(jìn)主要包括三個(gè)方面: 
1.加強(qiáng)對(duì)測試條件的檢查能力; 
2.加強(qiáng)用戶對(duì)測試過程的控制; 
3.加強(qiáng)對(duì)被測試器件的在線工作環(huán)境的識(shí)別能力。 
通過上述改進(jìn),有效提高了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。 

3.1對(duì)測試條件檢查能力的加強(qiáng) 
3.1.1 接觸檢查 
測試夾與被測器件接觸不好可能會(huì)造成錯(cuò)誤測試結(jié)果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測試夾引腳對(duì)地電阻大于約1M歐時(shí),會(huì)提示接觸不良(開路)。 
不過提示開路不一定總有接觸問題。比如使用在線測試功能,測試處于離線狀態(tài)的CMOS器件時(shí),由于這種器件的輸入阻抗很高,所有輸入腳都 

會(huì)判成開路。 
實(shí)用中如果測試失敗并且提示有開路狀態(tài),應(yīng)確認(rèn)是否屬于正常情況。如果測試成功,一般可忽略。 
3.1.2 電源電壓檢查 
這項(xiàng)測試要求必須給被測電路板加電。TTL器件的標(biāo)稱工作電壓是5V±5%。電源電壓不達(dá)標(biāo)有可能導(dǎo)致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測試前會(huì) 

自動(dòng)檢查器件上的電壓是否達(dá)標(biāo)。當(dāng)電源電壓*,將給出警告提示; 
3.1.3 非法電平檢查 
本測試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V,小于5V之間。但對(duì)一個(gè)有故障的電路板來說,什 

么情況都有可能發(fā)生。GT/ICT-Ⅱ在測試時(shí)一旦檢測到器件上有過電壓區(qū)間20%的電平值,將立即給以提示。為了安全起見,不再繼續(xù)測試下 

去。 
3.2對(duì)用戶控制測試過程的加強(qiáng) 
3.2.1 調(diào)整閾值電平 
當(dāng)TTL器件的輸出低于0.8V,說它輸出為低(電平);高于2.4V,說它輸出為高(電平)。這里的0.8V,2.4V就是TTL的低、高標(biāo)準(zhǔn)閾值電平。 

大致上說,器件的高電平越高,低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的,不能調(diào)整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進(jìn)行了擴(kuò)充,允許用戶修改閾值 

電平。比如,允許設(shè)為0.5V,3.0V進(jìn)行測試。 
這是一項(xiàng)很有價(jià)值的改進(jìn)。實(shí)用經(jīng)驗(yàn)表明,使用在線維修測試儀測試一個(gè)真正好的TTL數(shù)字器件,它的高電平會(huì)遠(yuǎn)高于標(biāo)準(zhǔn)高閾值2.4V,低電平 

比標(biāo)準(zhǔn)低閾值0.8V低很多。究其原因,可能是在線維修測試儀的測試速度比器件的實(shí)際工作速度低很多,分布參數(shù)造成的負(fù)載輕很多;反之, 

如果測試到一個(gè)器件的高、低電平很接近標(biāo)準(zhǔn)閾值,這往往表示該器件的驅(qū)動(dòng)能力已明顯下降,雖然能通過測試,但不能保證上機(jī)正常工作

。 
3.2.2 修改測試頻率 
GT/ICT-Ⅱ的測試頻率分4檔可選:45Ktv/S,20Ktv/S,5Ktv/S,1 Ktv/S(Ktv/S=千條測試向量/每秒)。缺省值為20Ktv/S。實(shí)際測試時(shí),可根 

據(jù)具體情況選用。比如74HC類低功耗器件,測試失敗后可降低速度再試一次。 
3.2.3 加電延遲時(shí)間 
在進(jìn)行測試時(shí),GT/ICT-Ⅱ自動(dòng)控制給電路板加電——測試一個(gè)器件的瞬間接通電源,測試完成后關(guān)斷。這樣的好處是避免用戶誤操作損壞電路 

扳,帶來的問題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容,加電后,電路板上的電源電壓是逐步上升的,需要延遲一段時(shí)間后才能達(dá)到預(yù)期值 

。不同大小的電路板需要的延遲時(shí)間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶設(shè)定接通電源延遲多長時(shí)間后開始測試。 
3.3對(duì)器件在線工作環(huán)境識(shí)別能力的加強(qiáng)  
測試電路板上的器件時(shí)必須使用適當(dāng)?shù)母綦x技術(shù)來消除關(guān)聯(lián)器件對(duì)被測試器件的影響。后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)專門用于數(shù)字器件的在線測試隔離。 
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)有一定的使用條件,不滿足這些條件就會(huì)由于隔離不成功而測試失敗,把好器件測成壞器件。對(duì)在線器件工作環(huán)境的識(shí)別,就是盡 

量把影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)正確使用的情況檢查出來,避免誤判。 
3.3.1后驅(qū)動(dòng)技術(shù)原理及應(yīng)用中的問題 
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)是美國人在上世紀(jì)60年代發(fā)明的。可簡單說明如下: 
電路結(jié)點(diǎn)一般由器件的一個(gè)輸出和若干個(gè)輸入組成。參見圖一。設(shè)測試U3,就要在U3各輸入腳所在的電路結(jié)點(diǎn)上施加測試信號(hào)。由于決定結(jié)點(diǎn) 

電位的是器件輸出而不是輸入,參見圖中的X結(jié)點(diǎn),在該結(jié)點(diǎn)上加信號(hào)實(shí)質(zhì)上是如何驅(qū)動(dòng)U1的、與X引腳關(guān)聯(lián)的輸出,使它能夠根據(jù)測試要求為 

高或?yàn)榈?。U3的輸出可以直接取回來。 
假定X結(jié)點(diǎn)當(dāng)前狀態(tài)為低電平,怎樣把它驅(qū)動(dòng)至高電平呢?參見圖二給出的TTL器件的典型輸出結(jié)構(gòu)。 


輸出低電平時(shí),Q1截止,Q2飽合,這個(gè)低電平就是Q2的飽合壓降,約在0.3V以下。Q2的飽和條件為:β2*Ib2>>Ic2。通過測試儀給Q2的集電極 

注入一個(gè)足夠大的電流,使Ic2變得很大,Q2脫離飽合,它的輸出就會(huì)升起來。問題在于Q2上的功耗:P=Ic2*Vce2 會(huì)隨Ic2、Vce2的增加迅速增 

加到P > Pcm(Z大額定功耗)。這是否會(huì)損壞Q2呢?后驅(qū)動(dòng)技術(shù)證明,只要驅(qū)動(dòng)時(shí)間不過26毫秒,不會(huì)有問題。在發(fā)達(dá),滿足這個(gè)時(shí)間 


對(duì)于輸出為高而要驅(qū)動(dòng)為低的情況,分析方法相同,只是把向Q2集電極灌電流改為從Q1發(fā)射極拉電流。 
從以上對(duì)后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的說明可以看出: 
1.后驅(qū)動(dòng)技術(shù)用于隔離數(shù)字器件之間的關(guān)聯(lián)對(duì)測試的影響; 
2.假定一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)由一個(gè)輸出多個(gè)輸入組成; 
3.被測試器件上不能有其它邏輯信號(hào); 
4.不能處理異步時(shí)序電路。 
然而在實(shí)際電路板上,確實(shí)存在著數(shù)字器件和非數(shù)字器件關(guān)聯(lián)(比如數(shù)字器件輸出驅(qū)動(dòng)晶體管基極、運(yùn)放驅(qū)動(dòng)數(shù)字器件輸入)、一個(gè)電路結(jié)點(diǎn) 

上有不止一個(gè)數(shù)字器件輸出(比如數(shù)據(jù)總線)、被測器件上有其它邏輯信號(hào)(比如板上有晶振)等等。這些情況經(jīng)常會(huì)影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的正確 

使用(一般稱作隔離不開),會(huì)導(dǎo)致不正確的測試結(jié)果。 
3.3.2 對(duì)和非數(shù)字器件相關(guān)聯(lián)的處理 
這種情況造成隔離失敗的原因,主要是結(jié)點(diǎn)電位被非數(shù)字器件鉗死,或者驅(qū)動(dòng)信號(hào)被非數(shù)字器件吸收,加不上去(也相當(dāng)于電平被鉗位)。下 

圖中給出了兩種常見的結(jié)構(gòu)。 

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識(shí)別出來,以管腳狀態(tài)的形式提示給用戶,當(dāng)器件測試失敗后,供用戶進(jìn)一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識(shí)別出6種與此相關(guān) 

的管腳狀態(tài): 
電 源:恒高且為電源腳; 
恒 高:不可驅(qū)動(dòng)至低于高閾值; 
不可高:不可驅(qū)動(dòng)至高于高閾值; 
不可低:不可驅(qū)動(dòng)至低于低閾值; 
恒 低:不可驅(qū)動(dòng)至高于低閾值; 
地 :恒低且為地腳。 
3.3.3 對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)的處理 
對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)通常要用總線競爭屏蔽信號(hào)(GUARD信號(hào))去解除非被測試器件的輸出對(duì)被測器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測試儀沒有 

GUARD信號(hào)、有的版本只有1、2個(gè)GUARD信號(hào)—-這在許多情況下不夠用;有的版本的GUARD信號(hào)不可控,僅是通過一個(gè)小電阻接到電源上——這 

不符合后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求,會(huì)損壞被屏蔽器件。(詳細(xì)說明請參閱有關(guān)文章) 
GT/ICT-Ⅱ設(shè)置了8個(gè)*后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求GUARD信號(hào),并且用戶可控。 
3.3.4 對(duì)板上有邏輯信號(hào)的處理 
電路板上的邏輯信號(hào)可能干擾正確測試。GT/ICT-Ⅱ在測試前會(huì)進(jìn)行檢查。如果在被測器件的管腳上發(fā)現(xiàn)有邏輯信號(hào),會(huì)作為一種管腳狀態(tài)“有 

翻轉(zhuǎn)”提示出來。由于這種情況可能影響、也可能不影響測試結(jié)果,所以當(dāng)測試成功后,可忽略;當(dāng)測試失敗時(shí),才需要用戶處理。 
3.3.5輸入浮動(dòng) 
管腳狀態(tài)“輸入浮動(dòng)”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連,否則意味著該腳斷線。盡管這并不影響對(duì)該器件的測 

試,但它反映了電路板上一個(gè)可能的故障,所以也作為一種管腳狀態(tài)提示出來。 
3.4 提高測試準(zhǔn)確性的一般方法 
從以上討論可以看出,受測試條件、器件工作環(huán)境的影響,在線測試的結(jié)果有一定的不確定性。從進(jìn)口測試儀產(chǎn)品來看,主要通過兩種辦法來 

提高測試的準(zhǔn)確性: 
1.加強(qiáng)對(duì)影響測試結(jié)果的外部因素的識(shí)別能力。在測試儀產(chǎn)品上的具體體現(xiàn),就是的測試儀能識(shí)別的管腳狀態(tài)種類多,低檔的能識(shí)別的狀 

態(tài)少。比如某進(jìn)口測試儀能識(shí)別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識(shí)別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。 
2.由于在線測試的不確定性,把整個(gè)測試過程盡量詳細(xì)的顯示出來,供用戶結(jié)合測試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步分析,這幾乎可以說是在線測試的基本設(shè) 

計(jì)原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個(gè)原則。遺憾的是某些國產(chǎn)測試儀的設(shè)計(jì)者沒有真正理解這一點(diǎn),有些測試功能僅給出“測試通過” 

、或“測試失敗”的提示,測試過程幾乎沒有提示。 

四、結(jié)語 
電路在線維修測試儀所依據(jù)的技術(shù)原理并不復(fù)雜,但是依據(jù)同樣這些技術(shù)做出的測試儀產(chǎn)品卻是千差萬別,而且許多差別,是在你比較深入的 

了解了這項(xiàng)技術(shù),有了相當(dāng)?shù)氖褂媒?jīng)歷后才能體會(huì)得到。希望本文能對(duì)進(jìn)一步了解這種產(chǎn)品提供幫助。

 

 

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