單鐵基分體測(cè)厚儀具有電源欠壓指示功能
2、操作過(guò)程有蜂鳴聲提示
3、能快速自動(dòng)識(shí)別鐵基體與非鐵基體
4、設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;
5、有負(fù)數(shù)顯示功能,保證儀器在零位點(diǎn)的校準(zhǔn)準(zhǔn)確性;
6、采用了磁性測(cè)厚方法,適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳。
7、可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)量頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正,保證儀器在測(cè)量過(guò)程中儀器的準(zhǔn)確性;
WH91單鐵基分體涂層測(cè)厚儀的使用說(shuō)明
1)開機(jī)
按下 ON 鍵后儀器聽到一聲鳴響,自動(dòng)恢復(fù)上次關(guān)機(jī)前的參數(shù)設(shè)置后,將顯示0.0μm,儀器進(jìn)入待測(cè)狀態(tài)。可測(cè)量工件了。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間不使用儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。
2)關(guān)機(jī)
在無(wú)任何操作的情況下,大約 3分鐘后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。按一下“ON”鍵,立即關(guān)機(jī)。
3)單位制式轉(zhuǎn)換(公制與英制轉(zhuǎn)換)
在待測(cè)狀態(tài)下,按μm/mil可轉(zhuǎn)換其測(cè)量單位。
4)測(cè)量
a)準(zhǔn)備好待測(cè)試件
b)是否需要校準(zhǔn)儀器,如果需要,選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行(參照 4 儀器校準(zhǔn))
c)迅速將測(cè)量頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)量頭定位套,隨著一聲鳴響,屏幕顯示測(cè)量值,儀器會(huì)自動(dòng)感應(yīng)被測(cè)基體:感應(yīng)到是磁性基體時(shí)儀器顯示 Fe感應(yīng)到是非磁性金屬時(shí)儀器顯示 NFe。測(cè)量時(shí)請(qǐng)始終保持儀器處于垂直狀態(tài)!提起測(cè)量頭可進(jìn)行下次測(cè)量;
單鐵基分體測(cè)厚儀
為使測(cè)量準(zhǔn)確,應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片(包括箔和基體)
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。
a) 校準(zhǔn)箔
對(duì)于磁性方法, “箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法,通常采用塑料箔。 “箔”有利于曲面上的校準(zhǔn),而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。
b) 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法,覆蓋層是非磁性的。對(duì)于渦流方法,覆蓋層是非導(dǎo)電的。
2 基體
a)對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
2) 用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。
3 校準(zhǔn)方法
本儀器有三種測(cè)量中使用校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn),還有一種針對(duì)測(cè)量頭的六點(diǎn)修正校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。
3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn)
a) 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<×.×µm>。
b) 按 ZERO 鍵,屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成,可以開始測(cè)量了。
c) 重復(fù)上述 a、b 步驟可獲得更為精確的零點(diǎn),高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。注:本儀器提供負(fù)數(shù)顯示,為用戶更方便的選擇零點(diǎn)。