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分體鐵鋁兩用測(cè)厚儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市威福光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間2019/2/21 9:59:02
  • 訪問(wèn)次數(shù)264
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圳市威福光電科技有限公司主要從事光電產(chǎn)品的技術(shù)開發(fā)、生產(chǎn)的*企業(yè)。從事行業(yè)涉及顏色測(cè)量、光澤度測(cè)量、涂層膜厚測(cè)量、光譜測(cè)量、光源開發(fā)等多個(gè)領(lǐng)域,在顏色測(cè)量、光譜測(cè)量方面有多項(xiàng)技術(shù)。目前批量生產(chǎn)的系列色差儀、光澤度儀、涂層測(cè)厚儀,處于國(guó)內(nèi)*水平。    

威福光電,讓測(cè)量更簡(jiǎn)單

色差儀,檢測(cè)儀
分體鐵鋁兩用測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,帶線的探頭可測(cè)一些凹槽面,鋁合金窗外不好測(cè)的位置,測(cè)量陽(yáng)極氧化數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定,
分體鐵鋁兩用測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息

分體鐵鋁兩用測(cè)厚儀1)開機(jī)

按下 ON 鍵后儀器聽到一聲鳴響,自動(dòng)恢復(fù)上次關(guān)機(jī)前的參數(shù)設(shè)置后,將顯示0.0μm,儀器進(jìn)入待測(cè)狀態(tài)??蓽y(cè)量工件了。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間不使用儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。

2)關(guān)機(jī)

在無(wú)任何操作的情況下,大約 3分鐘后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。按一下“ON”鍵,立即關(guān)機(jī)。

3)單位制式轉(zhuǎn)換(公制與英制轉(zhuǎn)換)

在待測(cè)狀態(tài)下,按μm/mil可轉(zhuǎn)換其測(cè)量單位。

4)測(cè)量

a)準(zhǔn)備好待測(cè)試件

b)是否需要校準(zhǔn)儀器,如果需要,選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行(參照 4 儀器校準(zhǔn))

c)迅速將測(cè)量頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)量頭定位套,隨著一聲鳴響,屏幕顯示測(cè)量值,儀器會(huì)自動(dòng)感應(yīng)被測(cè)基體:感應(yīng)到是磁性基體時(shí)儀器顯示 Fe感應(yīng)到是非磁性金屬時(shí)儀器顯示 NFe。測(cè)量時(shí)請(qǐng)始終保持儀器處于垂直狀態(tài)!提起測(cè)量頭可進(jìn)行下次測(cè)量;

分體鐵鋁兩用測(cè)厚儀

a) 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b) 基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c) 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

d) 邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

e) 曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

f) 試件的變形

測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

g) 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

h) 磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

i) 附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

j) 測(cè)量頭壓力

測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。

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