普賽斯儀表 自主研發(fā)的高精度臺式數(shù)字源表、 插 卡式源表、 窄脈沖 電流源、VCSEL測試 系統(tǒng) 等，*國產(chǎn)空白。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的測試工藝，為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動程序和高效算法軟件組合，幫助用戶構(gòu)建自定解決方案。為半導(dǎo)體封測廠家提供相關(guān)測試儀表、測試平臺，以及相關(guān)技術(shù)服務(wù)，滿足行業(yè)對測試效率、測試精度，以及低成本的挑戰(zhàn)。
武漢普賽斯將以服務(wù)客戶為中心，追求可持續(xù)發(fā)展，精益求精，堅持不懈，努力將自身打造成。
簡介
S 系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的*國產(chǎn)化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，大輸出電壓達(dá) 300V ，小測試電流達(dá) 100pA ，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中 : 半導(dǎo)體 IC 或元器件，功率器件，傳感器，有機(jī)材料與納米材料等特性測試和分析。
產(chǎn)品特點
Ø 5 寸 800*480 觸摸顯示屏，全圖形化操作
Ø 內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV 、 PIV
Ø 源及測量的準(zhǔn)確度為0.1% ，分辨率 5 數(shù)位
Ø 四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pA~1A ，電壓 0.3mV~300V
Ø 豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
Ø 支持USB 存儲，一鍵導(dǎo)出測試報告
Ø 支持多種通訊方式，R S-232 、GPIB 及以太網(wǎng)
SMU源測單元 技術(shù)參數(shù)
量大輸出功率：30W，四象限源和肼模式
源限度 | 電壓源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ; |
電流源 | 士1.05A(≤30V量程)，+105mA (≤300V量程) ; |
過量程 | 105%量程,源和測量; |
穩(wěn)定負(fù)載電容 | <22nF ; |
寬帶噪聲(20MHz) | 2mV RMS(典型值)，<20mV Vp-p(典型值); |
線纜保護(hù)電壓 | 輸出阻抗1KΩ ,輸出電壓偏移<80uV ; |
大采樣速率 | 1000采樣點/秒; |
觸發(fā) | 支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置; |
輸出接口 | 前后面板香蕉頭插座輸出,同一時刻只能用前或者后面板接口; |
通信口 | RS-232、GPIB、 以太網(wǎng); |
電源 | AC 100~ 240V 50/60Hz ; |
工作環(huán)境 | 25+10°C ; |
尺寸 | 106mm高x 255mm寬x 425mm長; |
重量 | 5Kg ; |
質(zhì)保期 | 1年; |
電壓及電流精度： (不同型號電壓量程由差異，以選型指南為準(zhǔn))
電壓 | 源 | 測量 | ||
量程 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) |
300mV | 30uV | 0.1%±300uV | 30uV | 0.1%±300uV |
3V | 300uV | 0.1%±500uV | 300uV | 0.1%±500uV |
30V | 3mV | 0.1%±3mV | 3mV | 0.1%±3mV |
300V | 30mV | 0.1%±30mV | 30mV | 0.1%±30mV |
電流 | 源 | 測量 | ||
量程 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) |
100nA | 10pA | 0.1%±0.5nA | 10pA | 0.1%±0.5nA |
1uA | 100pA | 0.1%±3nA | 100pA | 0.1%±3nA |
10uA | 1nA | 0.1%±5nA | 1nA | 0.1%±5nA |
100uA | 10nA | 0.1%±50nA | 10nA | 0.1%±50nA |
1mA | 100nA | 0.1%±300nA | 100nA | 0.1%±300nA |
10mA | 1uA | 0.1%±5uA | 1uA | 0.1%±5uA |
100mA | 10uA | 0.1%±20uA | 10uA | 0.1%±20uA |
1A | 100uA | 0.1%±2mA | 100uA | 0.1%±2mA |
產(chǎn)品應(yīng)用
l 分立半導(dǎo)體器件特性測試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN 二極管、 BJT 三極管、 MOSFET 、 SIC 、 GaN 等器件；
l 能量與效率特性測試，LED/AMOLED 、太陽能電池、電池、 DC-DC 轉(zhuǎn)換器等
l 傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應(yīng)等
l 有機(jī)材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等
l 納米材料特性測試，石墨烯、納米線等
