德國蔡司推出了具有時代意義的蔡司掃描電鏡 (SEM)-拉曼光譜聯(lián)合平臺系統(tǒng)，能夠?qū)悠返奈⒂^形貌、元素分析與分子結(jié)構(gòu)、理化性質(zhì)、結(jié)晶度及晶體缺陷信息相結(jié)合，為科研人員提供了一個全新的多維度分析平臺。該平臺可配置Witec、Renishaw、Horiba等多家拉曼光譜，為您提供個性化應(yīng)用選擇。
系統(tǒng)構(gòu)成
蔡司掃描電子顯微鏡：是利用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等，對樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析的一種檢測手段。借助附件能譜儀EDS或者波譜儀WDS可以獲得分析區(qū)域的元素種類及其含量的定性信息。增加背散射電子衍射EBSD附件還可以獲取晶體學(xué)取向信息。但是掃描電鏡很難表征物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu)。
拉曼光譜：是一種散射光譜，通過測定材料的分子鍵的振動頻率，可以獲得材料的化學(xué)與結(jié)構(gòu)特點，例如官能團(tuán)，對稱群，點陣缺陷等，以及材料的結(jié)晶度等詳細(xì)的信息。但是拉曼光譜往往借助光學(xué)顯微鏡用于觀察樣品及激光聚焦，受制于所用激光光源的波長(一般為紫外、可見光及近紅外波段)，空間分辨率較低，對于一些結(jié)構(gòu)復(fù)雜的樣品難以分辨其中的不同的物相與顆粒。
