蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡(CLSM)是一臺(tái)用于材料分析的儀器，可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶(hù)設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。LSM 900可對(duì)納米材料、金屬、聚合物和半導(dǎo)體進(jìn)行精確的三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動(dòng)光學(xué)顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時(shí)具有所有的光學(xué)顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無(wú)需切換顯微鏡，您將可以進(jìn)行原位觀察，節(jié)省大量的時(shí)間。自動(dòng)化也會(huì)給您的數(shù)據(jù)采集和后期處理帶來(lái)諸多便利。另外，LSM 900具有非接觸式共聚焦成像的優(yōu)勢(shì)，例如表面粗糙度的評(píng)估。
優(yōu)勢(shì)
結(jié)合光學(xué)顯微和共聚焦成像
LSM共聚焦平臺(tái)LSM 900專(zhuān)為2D和3D的嚴(yán)苛材料應(yīng)用而開(kāi)發(fā)。
您可以用非接觸式共聚焦成像來(lái)表征樣品的形貌特征和評(píng)估表面粗糙度
以無(wú)損方式確定涂層和薄膜的厚度
您可以運(yùn)用各種成像方式，包括在光學(xué)觀察方式或共聚焦模式下的偏光與熒光顯微成像
在反射光下表征金相樣品，在透射光下表征巖石或聚合物薄片樣品。
高效樣品研究
無(wú)需切換顯微鏡，即可使用多種方式對(duì)新材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析，減少儀器設(shè)置時(shí)間，提高獲得結(jié)果的效率。
在樣品的多個(gè)位置使用自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集優(yōu)化您的流程。
可以在概況圖像上靈活定義您感興趣的區(qū)域，只采集您需要的區(qū)域。
高達(dá)6,144 × 6,144像素的掃描范圍使您可以靈活定義掃描區(qū)域的大小甚至方向
*掌控?cái)?shù)據(jù)及其后期處理
