CHY-CA太陽能硅片厚度儀采用機械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的無妨布、塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

太陽能硅片厚度儀  技術(shù)特征

l 搭載5寸IPS觸控屏，采用進口MEAS差動電感式位移傳感器分辨率0.1um.

l 測試過程按用戶設(shè)定程序，測量頭自動升降測量，測量數(shù)據(jù)自動打印

l 支持同組數(shù)據(jù)100個測量點數(shù)據(jù)采集，支持500組數(shù)據(jù)存儲/查詢

l 支持多級用戶權(quán)限管理，測試數(shù)據(jù)歷史記錄可查詢，可審計追蹤。

l 實時顯示測量結(jié)果的zuida值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷

l 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性

l 可選配自動進樣裝置，實現(xiàn)無人工操作，系統(tǒng)全自動測量

l 配備USB接口，專業(yè)測控軟件、可通過軟件操控儀器完成各項測量

測試標(biāo)準(zhǔn) 該設(shè)備滿足多項國家和國際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817GB_T、24218.2

基礎(chǔ)應(yīng)用

薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、箔片、硅片、金屬片、紡織材料、固體電絕緣體、無紡布材料，如尿不濕、衛(wèi)生巾片材等

技術(shù)指標(biāo)

測試范圍 ：0～6 mm

分辨率 ：0.1 μm

壓腳面積 ：2500 mm2 （可選50mm2、200 mm2）  注：非標(biāo)可定制

電源： AC 220V 50Hz

外形尺寸： 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

凈重： 32 kg

產(chǎn)品配置：主機、微型打印機、標(biāo)準(zhǔn)量塊、專業(yè)軟件、通信電纜、電源線、測量頭、合格證、說明書、裝箱單