高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用於電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件

汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航太、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳

電子晶片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉

力及產(chǎn)品於熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械

的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

符合標(biāo)準(zhǔn)

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--一箱式;

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--二箱式;

滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;

GB/T 2423.22-2002溫度變化;