泰克 Tektronix DSA8300 供應(yīng)
歐陽R:13537;;;229325
Tektronix DSA8300系列提供了行業(yè) 先的小于100fs的本底抖動,可以實現(xiàn)異常準(zhǔn)確的器件檢定, 支持光通信標(biāo)準(zhǔn)、時域反射計和S參數(shù)。DSA8300數(shù)字采樣示波器為155Mb/s - 100G的數(shù)據(jù)通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
功能
優(yōu)勢
電模塊信號測量準(zhǔn)確度:
超低系統(tǒng)抖動(典型 <100 fs)
> 70GHz
<100 fs 本底抖動允許對高位速率(40 和 100 (4′25) Gb/s)設(shè)備進行檢定,典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定(數(shù)據(jù)速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數(shù)據(jù)速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波)。
所有帶寬上系統(tǒng)噪聲業(yè)內(nèi)低:
600 μV 大(450 μV 典型) 60 GHz
380 μV 大(280 μV 典型) 30 GHz
降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量,避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。
單臺主機內(nèi)多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。
多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試,提高多個高速串行通道系統(tǒng)的測試吞吐量。
光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網(wǎng)所有標(biāo)準(zhǔn)速率的光一致性測試。
為單模和多模光標(biāo)準(zhǔn)提供經(jīng)濟實惠、功能多樣的光測試系統(tǒng),從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太網(wǎng))和 100 Gb/s 以太網(wǎng)(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波長 850、1310 和 1550nm。
優(yōu)異的采集吞吐量,采樣率高 300 kS/s。
通過優(yōu)異的系統(tǒng)吞吐量,可將制造或設(shè)備檢定測試時間縮短 4 倍。
能夠?qū)⒉蓸悠鞣诺奖粶y設(shè)備 (DUT) 的附近。
遠(yuǎn)程采樣頭 降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化,簡化測試系統(tǒng)的反嵌。
獨立的已校準(zhǔn)通道相差校正。
雙通道模塊中具有集成的已校準(zhǔn)通道相差校正,消除時滯,增強多通道測量的信號保真度。
型號
模擬帶寬
采樣率
記錄長度
模擬通道
DSA8300
DC - 80 GHz
大 300 kS/s
50 點 - 16,000 點(IConnect? 為 1M 點,80SJNB 為 10M 點)
取決于使用的采樣模塊,多8條通道