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FT-361超低阻雙電四探針測試儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱寧波瑞柯偉業(yè)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號FT-361
  • 所  在  地寧波市
  • 廠商性質(zhì)
  • 更新時間2024/10/18 8:30:23
  • 訪問次數(shù)2
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食品機(jī)械設(shè)備網(wǎng)采購部電話:13777369734

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產(chǎn)銷:粉體物性測試儀,粉末堆密度儀,粉體和顆粒特性測定儀,粉末電阻率測試儀,休止角測定儀,粉末電阻率測試儀,安息角測定儀,休止角測試儀,粉體松裝密度測定儀,粉末振實(shí)密度儀,斯柯特容量計(jì),霍爾流速計(jì),粉末電導(dǎo)率測試儀,堆積密度測定儀,粉體特性綜合測試儀,粉末流動性測試儀,表觀密度測定儀,密度計(jì),體積密度測定儀,比重計(jì),粉末真密度儀,粉體和顆粒性狀分析儀,粉末綜合測量,粉末剪切測試儀,粉末摩擦特性測試儀,jenike剪切試驗(yàn)儀
FT-361超低阻雙電四探針測試儀
FT-361超低阻雙電四探針測試儀 產(chǎn)品信息
產(chǎn)品介紹

FT-361超低阻雙電四探針測試儀

一、概述:本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,小可以測試到1uΩ方阻值,是目前同行業(yè)中能測量到的小值,采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

選購:本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用,通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.

二、廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

三、參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-62×102Ω/□

2.電阻率范圍:10-72×103Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA 1μA,10μA,100µA.

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率.

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 2.方形探頭; 3.直線形探頭; 4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

與精致并重;與智慧之原

詳細(xì)資料

FT-361超低阻雙電四探針測試儀

一、概述:本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,小可以測試到1uΩ方阻值,是目前同行業(yè)中能測量到的小值,采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

選購:本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用,通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.

二、廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

三、參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-62×102Ω/□

2.電阻率范圍:10-72×103Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA 1μA10μA,100µA.

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率.

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 2.方形探頭; 3.直線形探頭; 4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

與精致并重;與智慧之原

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