快速高低溫沖擊實驗箱，因為溫度可以隨時變化做試驗，所以也能稱它為溫沖溫變箱。此設備的主要特點是溫度試驗可以設定快速沖擊及快速變化，快可以在3秒鐘內(nèi)從高溫變到低溫，5分鐘內(nèi)完成沖擊 效果。破壞能力，功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多。該試驗設備主要用于對電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件等各類產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對原產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬試驗，試驗后，通過檢測，來判斷相關(guān)產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預定要求，以便供各類產(chǎn)品的設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
標準型型號（另：可根據(jù)客戶要求定做）：
LQ-TS--80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440。
LQ-TS--150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540。
LQ-TS--250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640。
LQ-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150。
快速高低溫沖擊實驗箱｜半導體高低溫沖擊試驗箱的測控系統(tǒng)：
1.控制器： 7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊。
2.運行方式：程序方式。
﹙1﹚控制對象 試驗區(qū)曝露溫度。
高溫恒溫區(qū)預熱溫度。
低溫恒溫區(qū)預熱溫度。
低溫恒溫區(qū)除霜溫度。
﹙2﹚指示精度 0.1℃。
﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN。
﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制。
3.設定方式：中文菜單，觸摸屏方式輸入。
4.程序容量：100組程式，每個程序3步；每個程序可設1000次循環(huán)，循環(huán)設定9999cycles。
5.設定范圍：預熱預冷箱區(qū)。
高溫室預熱溫度上限：+200℃。
低溫室預冷溫度下限：-75℃。
試驗室﹙試樣區(qū)﹚。
溫度沖擊上限：+150℃。
溫度沖擊下限：-65℃。
6.顯示分辨率：溫度：0.1℃ 時間：0.1min。
7.通訊功能：RS-232接口及USB接口，具有本地和遠程通訊功能。
8.控制方式：抗積分飽和PID，模糊算法；BTC平衡調(diào)溫控制方式。
9.附屬功能：故障報警及原因、處理提示功能、超溫保護、故障記錄、上下限溫度保護、傳感器上下風選擇、斷電保護、試驗暫停、報警輸出、時間信號輸出，試驗結(jié)束輸出、溫度到達輸出、定時啟動及自動停止功能、自診斷功能。
所滿足的標準有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗;GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗;GJB367.2-1987 通信設備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗;IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標標準等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標準。
