芯片測(cè)試高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的試驗(yàn)方法有:SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式;SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估等等。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家柳沁科技所有試驗(yàn)設(shè)備嚴(yán)格按照設(shè)備對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制造各類(lèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,實(shí)現(xiàn)的質(zhì)量,中國(guó)化的價(jià)格。柳沁擁有一個(gè)從境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)的科研機(jī)構(gòu),具備成熟的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研制手段與試驗(yàn)室,聚集了行業(yè)內(nèi)一批優(yōu)秀的各類(lèi)人才和專(zhuān)家,強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)著國(guó)內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向.具有同行業(yè)的設(shè)計(jì)手段,合理的工藝布局,的制造技術(shù),嚴(yán)格的質(zhì)量保證體系,采用國(guó)外品牌的數(shù)控加工柔性生產(chǎn)線,保證為每個(gè)購(gòu)買(mǎi)柳沁冷熱沖擊試驗(yàn)箱的顧客提供可靠的質(zhì)量保證。
芯片測(cè)試高低溫沖擊試驗(yàn)箱的性能參數(shù)參考如下:
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費(fèi)配高溫至150度)。
二、溫度偏差:±2℃。
三、溫度波動(dòng)度:±0.5℃。
四、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min。
五、溫度恢復(fù)條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式:采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。
七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間:30min (+25℃~+200℃)。
八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間:65min (+25℃~-75℃)。
九、低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)|低溫沖擊機(jī)|沖擊試驗(yàn)機(jī)工作時(shí)的噪音:(dB)≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音)
十、型號(hào) 內(nèi)箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm) 功率(kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0