光譜測(cè)試儀-NanoCalc反射法納米測(cè)厚儀圖片

2020-05-29 09:24:46274

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圖片描述：

NanoCalc反射法納米測(cè)厚儀光學(xué)特性從反射和干涉影像中顯現(xiàn)出來。膜厚測(cè)量?jī)x允許用戶從10nm到250μm分析光學(xué)圖層厚度。用戶可以觀察到一副圖層厚度分辨率達(dá)到0.1nm的單圖。根據(jù)用戶選擇的軟件，用戶可以分析單圖層或

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