誤區(qū)分析：金屬檢針儀是根據(jù)金屬在磁場(chǎng)中的感應(yīng)引起磁場(chǎng)信號(hào)的變化原理設(shè)計(jì)的，用來檢測(cè)產(chǎn)品中的金屬異物。與對(duì)產(chǎn)品中其他異物檢測(cè)的技術(shù)相比，其在對(duì)產(chǎn)品金屬異物探測(cè)方面具有通用性、易于操作、不需要特別防護(hù)等優(yōu)點(diǎn)，但也存在只能用于金屬異物探測(cè)以及檢測(cè)靈敏度受諸多因素影響等缺陷。金屬探測(cè)儀對(duì)檢出金屬的規(guī)格等有一定的限制，同時(shí)在使用過程中，其靈敏度還會(huì)受到外界振動(dòng)、溫度以及產(chǎn)品水分、鹽分含量或者產(chǎn)品本身溫度、個(gè)體大小、組分等因素的影響。

 　　解決方法：一般食品企業(yè)用來過篩粉類、流體類原料用的篩網(wǎng)，或者清潔工用具的鋼絲球等，不能依賴金屬檢測(cè)器來控制因篩網(wǎng)和鋼絲球等產(chǎn)生的破損而對(duì)產(chǎn)品造成的隱患。篩網(wǎng)類的金屬必須靠前工序的日常檢查來控制其可能對(duì)產(chǎn)品造成的隱患，鋼絲球等不能在食品加工區(qū)域內(nèi)使用。
 

誤區(qū)二：金屬探測(cè)儀運(yùn)行狀態(tài)確認(rèn)時(shí)間間隔隨意性強(qiáng)

 　　誤區(qū)分析：有些企業(yè)在使用過程中，用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片進(jìn)行金屬檢測(cè)器檢出能力確認(rèn)時(shí)，沒有明確規(guī)定兩次確認(rèn)之間的間隔。常見的問題是檢測(cè)過于頻繁，或者過于稀疏，甚至還存在發(fā)現(xiàn)異常時(shí)才進(jìn)行頻繁測(cè)試、未見異常情況時(shí)很少測(cè)試，甚至不測(cè)試的情況。這些都不利于金屬探測(cè)器的良好運(yùn)行，同時(shí)還會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品漏檢、誤檢時(shí)的糾偏成本增加（因不能證實(shí)異常發(fā)生的時(shí)間或者時(shí)段，沒有客觀證據(jù)證實(shí)其中部分產(chǎn)品合格，而需要全部重新檢驗(yàn)）。

 　　解決方法：在金屬探測(cè)器開啟時(shí)，運(yùn)行約20min，即用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片（Fe和SUS）進(jìn)行檢測(cè)。在作業(yè)時(shí)，應(yīng)在通過產(chǎn)品前，調(diào)整好機(jī)器靈敏度后，進(jìn)行再次確認(rèn)，并配合產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。在使用過程中，每隔30~60min用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片確認(rèn)一次，在產(chǎn)品通過結(jié)束時(shí)，也需要用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片進(jìn)行確認(rèn)。這樣既能確保金屬探測(cè)器在使用過程中一直保持正常工作狀態(tài)，還能保證當(dāng)通過產(chǎn)品發(fā)生異常時(shí)糾偏措施能夠方便而經(jīng)濟(jì)地實(shí)施。用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片測(cè)試金屬探測(cè)器時(shí)，正確的方法應(yīng)該為：將標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片放在皮帶的左、中、右三個(gè)位置通過金屬檢測(cè)器的通道，并用沒有干擾的輔助物（例如膠盒等）輔助通過金屬探測(cè)器的檢測(cè)能力zui弱區(qū)域，以確保產(chǎn)品在金屬探測(cè)器檢出能力范圍內(nèi)通過時(shí)，金屬異物被順利檢出。在操作完這些步驟后，應(yīng)將標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片緊貼在已經(jīng)被確認(rèn)合格的產(chǎn)品上，再重復(fù)上一步驟。全部合格并記錄后才算一次日常金屬探測(cè)器運(yùn)行狀態(tài)確認(rèn)完成。