主要標(biāo)準(zhǔn)Main Reference Standards：

IEC 61000-4-6/GB T17626.6：RF induction conducted disturbances immunity test

應(yīng)用特點(diǎn)Application Characteristics：

對(duì)于低頻（150kHz～80MHz/230MHz）的射頻信號(hào)的波長(zhǎng)較長(zhǎng)，EUT的互連電纜比EUT本身更加容易成為天線而接收電磁場(chǎng)，因此射頻抗擾度試驗(yàn)的低頻部分采用傳導(dǎo)測(cè)量方式。通過向被試設(shè)備的電纜注入共模電流，可以模擬Ｅ場(chǎng)和H場(chǎng)對(duì)被試設(shè)備的影響。

針對(duì)被試設(shè)備不同類型的端口，可選擇4種注入方式：

• CDN直接注入：適用于電源線（M型CDN）及常用電纜
• 電磁鉗注入：如果無法適用CDN，可以使用電磁鉗。
• 電流鉗注入：無法適用CDN，而且被測(cè)電纜的長(zhǎng)度過短時(shí)，就需要使用電流鉗。
• 直接注入法：通過100歐姆電阻直徑注入到同軸電纜的屏蔽層上。

一般來說，由于CDN具有zui小損耗，注入效率zui高，因此盡可能使用CDN。

測(cè)試配置布置圖Test configuration layout：

主要測(cè)試設(shè)備：信號(hào)源、功率放大器、定向耦合器、功率計(jì)、CDN網(wǎng)絡(luò)、EMC測(cè)試軟件等

測(cè)試環(huán)境：屏蔽室