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電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng) 數(shù)粒儀

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參考價: ￥ 386000

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產(chǎn)品型號PLD-MPCS2.0

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更新時間：2023-03-25 09:06:06瀏覽次數(shù)：526次

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西安市碑林區(qū)軍計(jì)測智控設(shè)備研究部

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商鋪產(chǎn)品：58條

所在地區(qū)：陜西西安市

聯(lián)系人：劉媛（業(yè)務(wù)經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

是否進(jìn)口	否	輸入信號電壓	220V
型號	PLD-MPCS2.0

電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng)是普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場的成熟系統(tǒng)儀器；
觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測試手段。

詳細(xì)介紹

電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、圖像測試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測試手段。

電子半導(dǎo)體圖像法污染度分析系統(tǒng) 優(yōu)勢：

測試軟件具有審計(jì)追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測試標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)量驗(yàn)證、報告模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動標(biāo)準(zhǔn)選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計(jì)數(shù)，或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù)，自動顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級；

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；

軟件控制分析過程，手動對焦，手動光強(qiáng)（顆粒清潔度測試必須人為干預(yù)進(jìn)行），自動掃描，自動攝入，自動分析；

*數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統(tǒng)，無縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進(jìn)行處理與分析；

引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位，快速聚焦，體驗(yàn)極速無卡頓測試。

顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；

直觀、形象、準(zhǔn)確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計(jì)、自動標(biāo)定等特點(diǎn)；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測范圍；