技術(shù)指標(biāo)：

ICT4040XP/4880XP/8080XP 電路板故障檢測儀
keqi[ICT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢測到電路板上故障元器件。簡捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆*的測試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家
◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數(shù)字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試
◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄，比較分析來測試


工作原理： 全功能ASA+ICT測試器

ASA（Analong signature Analysis）對元件每個管腳提供一個安全、低功率的掃描驅(qū)動電壓信號，以便產(chǎn)生一個阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲，以備比對。所有測試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲各類IC每個管腳V/I曲線圖形，并且對各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。
ICT（In circuit Testing）它能把待測元件與PC資料庫內(nèi)相對應(yīng)的元件資料作邏輯功能測試比較，測試時可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時顯示相應(yīng)輸出管腳的實測波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測試IC好壞，也可測試分析，還可識別不明型號的IC。

[ICT]系列檢測儀檢測更加可靠準(zhǔn)確
■ 功能測試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測試 ■ 功能測試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中、小型被測電路板皆可測試 ■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測試正負(fù)掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試集成電路在線功能測試

集成電路在線狀態(tài)測試

本功能采用后驅(qū)動隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲器等千余種集成電路。
1、快速測試：直接顯示測試結(jié)果，迅速確定可疑IC
2、分析測試：顯示全部測試過程，測試激勵。預(yù)期和實際響應(yīng)，幫助分析故障原因
3、器件識別：查找無標(biāo)記型號IC或同功能不同型號的IC。
集成電路在線狀態(tài)測試
通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。
1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)*IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫中
2、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞
3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態(tài)資料。

集成電路離線功能測試

離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片
IC邏輯圖查詢
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù)。

V/I曲線測試

通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC
1、學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)*板上各節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫中
2、曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞
3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗圖資料大

網(wǎng)絡(luò)提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式：
1、探棒對探捧（“棒”—“棒”模式） 3、測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式）
2、探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式） 4、測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式）


開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來，隨時用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。
1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法 a）在TVED圖形界面上直接建立 b）讀入DCL語言的編譯結(jié)果
2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對測試圖形加以調(diào)整、修改。
3、4種測試方式： a）完整執(zhí)行一個測試 b）執(zhí)行一個測試的一部分c）循環(huán)執(zhí)行 d）單步運(yùn)行