涂鍍層測(cè)厚儀DUALSCOPE®MPO簡(jiǎn)介：
—在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡(jiǎn)便、高精度測(cè)量涂鍍層厚度的理想選擇
·袖珍儀器中的*技術(shù)
新款DUALSCOPE*MPO采用廣受認(rèn)可的Fisher探頭技術(shù)，是zui為小巧并能zui大程度滿足您測(cè)量需求的儀器。它測(cè)量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對(duì)不復(fù)雜工件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量尤為理想。內(nèi)置探頭，采用磁感應(yīng)及電渦流方法，可快速無(wú)損測(cè)量涂鍍層厚度。DUALSCOPE*MPO自動(dòng)識(shí)別基材如鐵或鋁并自動(dòng)選擇適合的測(cè)量方法，可顯示zui重要的統(tǒng)計(jì)參數(shù)。由于有著出色的重復(fù)精度及統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)功能，是的這款儀器在同級(jí)別產(chǎn)品中。
涂鍍層測(cè)厚儀DUALSCOPE*MPO技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：
·可在所有金屬（鋼鐵或非鐵磁性金屬）基材上測(cè)量
·儀器可自動(dòng)識(shí)別鍍層下基材材料并選擇相應(yīng)測(cè)量方法
·出色的重復(fù)精度
·受基材透磁性、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度）影響小
·享有的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)（電渦流技術(shù)）
·足夠小巧，可在較難接觸區(qū)域進(jìn)行可靠測(cè)量
日常使用的理想選擇-（進(jìn)口涂鍍層測(cè)厚儀MPO 薄膜測(cè)厚儀 涂鍍層測(cè)厚儀）：
·無(wú)需校準(zhǔn)即可測(cè)量。在被測(cè)件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生大的改變時(shí)，單點(diǎn)校準(zhǔn)功能可修正這些影響并在選定的測(cè)量范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
·執(zhí)行簡(jiǎn)易的零點(diǎn)校正（歸一化)可在被測(cè)件形狀或基材發(fā)生小的改變時(shí)實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量
·統(tǒng)計(jì)功能（包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值和zui小值）
·快速的單手操作：將儀器置于工作件上即可看到測(cè)量讀數(shù)
·兩個(gè)背光LCD顯示屏，可在儀器的任一位置（包括頂部）看到讀數(shù)
· 自動(dòng)開(kāi)機(jī)/關(guān)機(jī)功能
·儀器經(jīng)過(guò)加固處理，采用可有硬質(zhì)鍍層的探頭，使儀器經(jīng)久耐用
·輕巧精致，儀器總重(含電池）僅132g
涂鍍層測(cè)厚儀DUALSCOPE*MPO實(shí)用功能：
·連續(xù)測(cè)量模式可掃描工件表面涂鍍層厚度，如大容器結(jié)構(gòu)
·可儲(chǔ)存1000讀數(shù)
·測(cè)量狼時(shí)伴有聲音和光學(xué)信號(hào)
·um和mils兩種單位·低電壓警示信息
涂鍍層測(cè)厚儀DUALSCOPE*MPO的實(shí)際應(yīng)用-（進(jìn)口涂鍍層測(cè)厚儀MPO 薄膜測(cè)厚儀 涂鍍層測(cè)厚儀）：
·鐵上電鍍鋅、鉻、銅等鍍層
·鐵上油漆、清漆、塑料等鍍層
·非鐵磁性金屬（鋁、銅、黃銅）或無(wú)磁性不銹鋼上的油漆、清漆、塑料等鍍層
·鋁上陽(yáng)極氧化膜
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量應(yīng)用 及測(cè)量范圍 | NF,Iso/Fe ： 0~2000μm | Iso/NF ： 0~2000μm |
測(cè)量誤差 以Fischer標(biāo)準(zhǔn)片為準(zhǔn) | 0~75μm ±1.5μm 75.~1000μm ≦2% 1000~2000μm ≦3% | 0~50μm ±1μm 50~1000μm ≦2% 1000~2000μm ≦3% |
重復(fù)精度 以Fischer標(biāo)準(zhǔn)片為準(zhǔn) | 0~50μm ±0.25μm 50~1000μm ≦0.5% | 0~100μm ±0.5μm 100~1000μm ≦0.5% |
測(cè)量方法 | 磁感應(yīng)方法 （DIN EN ISO 2178) | 電渦流方法 （DIN EN ISO 2360) |
操作溫度 | 5~60℃ | 5~60℃ |
內(nèi)存容量 | 1000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù) |
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