詳細(xì)介紹
6.35mm單點(diǎn)反射測(cè)量支架
單點(diǎn)反射測(cè)量支架是一個(gè)探頭支架,用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測(cè)量。 這一探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的光學(xué)探頭和其它取樣設(shè)備,可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達(dá)63.5mm。反射臺(tái)是電鍍臺(tái)面,表面刻有同心圓以確定直徑,用于放置圓形樣品。
單點(diǎn)反射測(cè)量支架是一個(gè)探頭支架,用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測(cè)量。 這一探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的光學(xué)探頭和其它取樣設(shè)備,可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達(dá)63.5mm。反射臺(tái)是電鍍臺(tái)面,表面刻有同心圓以確定直徑,用于放置圓形樣品。